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5. Treffen der AG „In Situ-Prüfung im Rasterelektronenmikroskop“

Die noch junge AG „In situ Prüfung im Rastelektronenmikroskop“ im DGM/DVM Gemeinschaftsausschuss

„Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“ unter der Leitung von Frau Dr. Anja Weidner kam am 8. und 9. März 2017 bereits zum fünften Mal zu ihrem jährlichen Frühjahrstreffen zusammen.

Auf Einladung von Herrn Prof. Joachim Mayer und Frau Dr. Anke Aretz fand das Treffen am Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie (GFE) der RWTH Aachen statt. Insgesamt 38 Teilnehmer folgten der Einladung und kamen zu einem 1,5 tägigen Erfahrungsaustausch zusammen.

Die Veranstaltung konnte mit einem weitgefächerten Spektrum an Fachvorträgen über den aktuellen Stand der Forschung nicht nur aus dem Hochschulbereich aufwarten. Im Mittelpunkt des Treffens stand neben der Vorstellung neuer Entwicklungen im Bereich der in situ Prüfung besonders der Austausch zwischen universitären Forschungsbereichen und der Industrie. Die vorgestellten Arbeiten aus einem weiten Feld der mechanischen in situ Prüfung reichten von Kleinstprobenprüfung mittels Modulen zur Nanoindentation in der Elektronenmikroskopie bis hin zur Untersuchung der Spanbildung im Großkammer-REM. Die Vorträge luden zum spannenden und produktiven Diskurs ein und lieferten viele Anregungen und Impulse. Dabei reichte das Spektrum der Untersuchungsmethoden von der Röntgen-Computertomographie über die Elektronenmikroskopie einschließlich Rückstreuelektronenbeugung (EBSD) und Bildkorrelation bis hin zur akustischen Emission zur Analyse und Interpretation von Verformungs- und Schädigungsmechanismen und deren Kinetik im Werkstoff. Modell- und teils neue Konstruktionswerkstoffe, Dünnschicht- und Nanomaterialien sowie Funktionswerkstoffe, aber auch biologische Proben waren in den breit aufgestellten Arbeiten vertreten.

Hysitron, Elektronen-Optik-Service/Nanomechanics und Zeiss stellten Neuentwicklungen im Bereich der in situ Prüftechnik und der Röntgenmikroskopie vor.

Bei der Abendveranstaltung, die im Zentrum von Aachen in unmittelbarer Nähe zum Dom im "Goldenen Einhorn" stattfand, hatten die Teilnehmer Gelegenheit sich in geselliger Atmosphäre bei leckeren Speisen kennen zu lernen, bestehende Kontakte zu vertiefen und fachlich auszutauschen.

Eine Laborführung am GFE und eine Live-Demonstration der Nanoindentation im REM rundeten die zweitägige Veranstaltung ab.

Den Gastgebern und Organisatoren der Veranstaltung sei an dieser Stelle für ihren Einsatz herzlich gedankt. Ein besonderer Dank geht auch an die Firmen Hysitron und Physical Electronics GmbH sowie Zeiss für die Durchführung der Live-Demos "InSitu Nanoindentation im REM" bzw. die erwiesene finanzielle Unterstützung für die Ausgestaltung der Veranstaltung.

Für die künftige Arbeit der AG "In situ Prüfung im Rasterelektronenmikroskop" hat sich Herr Dr.-Ing. Enrico Bruder (Institut für Physikalische Metallkunde der TU Darmstadt) bereit erklärt, Frau Dr. Anja Weidner in der Organisation und Leitung als stellvertretender AG-Leiter zu unterstützen. Im Laufe des Jahres wird eine Internetseite der AG freigeschaltet werden, die dann für alle Interessenten und Mitwirkenden der AG eine Plattform für Information und Austausch auch zwischen den jährlichen Sitzungen bietet.

Das nächste Frühjahrstreffen ist für März 2018 an der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung in Berlin auf Einladung von Prof. Pedro Portella geplant.

Die AG "In situ Prüfung im Rasterelektronenmikroskop" gründete sich im Rahmen des DGM/DVM Gemeinschaftsausschusses "Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung" im November 2013 in Berlin an der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM). Sie ist damit neben der "AG - Mikrostrukturcharakterisierung im REM (EBSD)" unter Leitung von Dr. G. Nolze und der AG "Fraktographie" unter Leitung von Dr. D. Bettge das dritte Standbein in diesem Gemeinschaftsausschuss. Informationen zu Veranstaltungen im Rahmen des Gemeinschaftsausschusses können unter folgendem Link http://www.dvm-berlin.de/index.php?id=130 oder im Veranstaltungskalender der DGM https://www.dgm.de/netzwerk/fachausschuesse-termine/ abgerufen werden.

(Autoren: P. Grünewald, F. Schäfer, D. Zimmermann, M. Thielen, A. Weidner)

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